Специалистам университета им. Э. Корнелла удалось то, чего ученые безуспешно пытались добиться на протяжение последних двадвати лет: исследователи радикально ускорили работу сканирующего туннельного микроскопа, прибора, выстраивающего топологическую карту высот образца на атомном уровне, руководствуясь сведениями о величине туннельного тока между наконечником и поверхностью. Процесс сканирования с помощью обычных СТМ чрезвычайно медлителен, что обусловлено крайней "неторопливостью" реакции электроники, регистрирующей туннельный ток, по сравнению со скоростью его изменения. Усовершенствование, предложенное исследователями, состоит в том, чтобы облучать область сканирования высокочастотными радиоволнами, и определять туннельный ток по характеристикам отраженных волн. По словам разработчиков, такая модификация позволяет ускорить процесс сканирования не менее чем на порядок.